***、掃描速度調(diào)節(jié)

       鑄件檢測(cè)的掃描速度***般按聲程調(diào)節(jié)。

二、檢測(cè)靈敏度調(diào)節(jié)

　　鑄件檢測(cè)靈敏度應(yīng)根據(jù)對(duì)鑄件的質(zhì)量要求而確定，***般上，對(duì)內(nèi)外層可采用不同的靈敏度。檢測(cè)靈敏度***般用圖6-43所示的帶有平底孔的試塊或工件底面來調(diào)節(jié)。用試塊調(diào)節(jié)靈敏度時(shí)，試塊的材質(zhì)和表面狀態(tài)（包括表面形狀、粗糙度）應(yīng)與被探工件相同，否則，應(yīng)測(cè)定傳輸修正值并予以修正。用工件底面調(diào)節(jié)靈敏度時(shí)，可以消除材質(zhì)差異和表面狀態(tài)差異的影響，但要求工件底面應(yīng)與檢測(cè)面平行。

　　當(dāng)采用直探頭檢測(cè)時(shí)，在***大聲程處，以φ3、φ4、φ6mm三種平底孔當(dāng)量為靈敏度，具體由供需雙方協(xié)商確定。若按GB/T 7233-2009標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)要求，通常采用2～2.5MHz的探頭，以***大聲程處的φ6mm平底孔作為檢測(cè)靈敏度。當(dāng)采用雙晶直探頭檢測(cè)時(shí)，以***大聲程處的φ3mm平底孔當(dāng)量為靈敏度。

二：缺陷判定與記錄

（1）缺陷判定

　　缺陷判定方法基本與鍛件相同，存在下列情況之***時(shí)，則可判為缺陷：

　　① 存在缺陷回波，且回波波幅超過某***高度(如超過距離－波幅曲線)時(shí)；

　　② 底面回波波幅降低某***值時(shí)；

　　③ 當(dāng)采用多次回波法檢測(cè)，底波次數(shù)減少時(shí)。

　　（2）缺陷記錄

　　標(biāo)準(zhǔn)不同，對(duì)缺陷記錄的要求不同，按GB/T 7233-2009標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)要求，除非另有規(guī)定，應(yīng)記錄達(dá)到或超出表6—6給出數(shù)值的所有底波衰減和缺陷回波高度。

　　當(dāng)使用斜探頭時(shí)，不考慮回波的幅度，應(yīng)記錄所有具有游動(dòng)特征或在壁厚方向上能測(cè)量尺寸的信號(hào)。

平底孔直徑換算成橫孔直徑的公式：

式中： DQ——橫孔直徑，單位為毫米（mm)

          DFBH——平底孔直徑，單位為毫米（mm)

          λ——波長，單位為毫米（mm)

          X——聲程，單位為毫米（mm)≧

注：本公式僅適于DQ≧2λ?X≧5N(N為近場(chǎng)長度)?單晶探頭。

       ***般情況下，鑄件中的缺陷往往要進(jìn)行挖補(bǔ)，為確定挖補(bǔ)的范圍和深度，對(duì)鑄件中缺陷定位要準(zhǔn)確。

　　鑄件檢測(cè)主要采用縱波直探頭，缺陷在工件中的位置由探頭在檢測(cè)面上的位置及缺陷在示波屏上的水平刻度值來確定。

　　7．缺陷大小的測(cè)定

　　鑄件檢測(cè)時(shí)。考慮到缺陷的形態(tài)和取向，超聲檢測(cè)應(yīng)盡可能從兩面進(jìn)行檢測(cè)。

       ***般鑄件中允許存在的缺陷較大，常用測(cè)長法確定缺陷的面積。鑄件中的缺陷多為體積形的，有時(shí)需要從多個(gè)方向進(jìn)行測(cè)定，以確定缺陷的大小。

       缺陷大小的測(cè)定方法基本與鍛件相同。

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