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     德***BMT（Breitmeier Messtechnik GmbH）作為德*** 進(jìn)的三維測量技術(shù)和應(yīng)用的制造商，在表面測量的技術(shù)領(lǐng)域具有豐富的經(jīng)驗，能夠為客戶的需求做出快速靈活的判斷，并為客戶提供更加***的、性價比高的、創(chuàng)新的表面測量解決方案，其優(yōu)勢在于對非接觸式（光學(xué)）、接觸式表面輪廓儀和粗糙度測量儀器的研發(fā)。

產(chǎn)品范圍：

德***BMT干涉儀、BMT滾軸表面輪廓儀、BMT、BMT原子力顯微鏡、BMT觸針可控儀器

產(chǎn)品系列：

WLILab 干涉儀、WLI Linnik干涉儀、WLI LA干涉儀、WLI VLA干涉儀、WLIRing干涉儀、WLI Infra干涉儀、Surfiler滾軸表面輪廓儀

德***BMT WLI Linik干涉儀特點(diǎn)：

•區(qū)域表面的形貌測量；

•數(shù)秒內(nèi)快速測量；

•粗糙和光滑表面都可測量；

•測量結(jié)果不受樣品的顏色和材料影響；

•產(chǎn)品堅固耐用。

德***BMT WLI Linik干涉儀技術(shù)參數(shù)：

•光源                            LED

•測量范圍    （mm)              150

•垂直分辨率（nm）               1

•橫向分辨率（μm）              ＞0.2

•測量面積    （μm）            90×70            

•工作距離，約（mm)              0.3

•光斑尺寸，約（μm)              0.95

•圖像尺寸（Pixel）               1～10

德***BMT Surfiler 滾軸表面輪廓儀簡介：

德***BMT Surfiler 滾軸表面輪廓儀用于對金屬表面結(jié)構(gòu)和粗糙度進(jìn)行光學(xué)測量評估和記錄。

•滾筒和平整表面的粗糙度和微結(jié)構(gòu)測量；

•可簡單安放到滾筒上；

•可用于各種表面，如昏暗、光亮和彩色表面；

•簡單非接觸測量，節(jié)省時間，橫向和徑向分辨率高；

•表面結(jié)構(gòu)的輕松記錄；

•符合人體工學(xué)的掃描操作設(shè)計；

•通過拼接實(shí)現(xiàn)大范圍測量；

•使用普通PC獲取數(shù)據(jù)，多種格式數(shù)據(jù)輸出，如tif、Excel、ASCⅡ。

技術(shù)參數(shù)：

•測量面積    [μm]             250 x 250 (或定制)

•垂直分辨率  [nm]               >1

•橫向分辨率  [μm]              >1

•測量時間    [s]                 3-50

•測量范圍    [μm]              150

•圖片尺寸    [Pixel]             1300 x 1100

•外觀尺寸    [mm]              400 x 120 x 160

•重量        [kg]              5

•位移        X 軸 [mm]          30

             Y 軸 [mm]          10