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電導(dǎo)率-塞貝克系數(shù)掃描探針顯微鏡

儀器簡介：

電導(dǎo)率-賽貝克系數(shù)掃描探針顯微鏡技術(shù)由德*** Panco 公司和德***宇航中心公共研制開發(fā)，可以測量樣品的電導(dǎo)率和賽貝克系統(tǒng)的空間分布狀況，是研究熱電材料的*新利器。

主要特點：

應(yīng)用領(lǐng)域
1、熱電材料，超導(dǎo)材料，燃料電池，導(dǎo)電陶瓷以及半導(dǎo)體材料的均勻度測量
2、測量功能梯度材料的梯度
3、觀察功能梯度材料的梯度效應(yīng)
4、監(jiān)測 NTC/PTC 材料的電阻漂移
5、導(dǎo)電固體中的傳導(dǎo)損耗
6、陰極材料的電導(dǎo)率損耗
7、GMR 材料峰值溫度的降低，電阻率的變化
8、樣品的質(zhì)量監(jiān)控

系統(tǒng)組成部分
1、三矢量軸定位平臺及其控制器
2、熱量克測量的測溫探針
3、接觸探測系統(tǒng)
4、模擬多路器
5、數(shù)字電壓表
6、鎖相放大器
7、攝像探頭
8、帶有專用控制軟件和 GPIB 總線的計算機
9、樣品架
 

全球部分用戶名單：

Beijing University of Technology

Corning Company

Korea Research Institute of Standards and Science

Shanghai Institute of Ceramics, CAS

Germany Air Force Research Lab

Simens Company

Gwangju Institute of Science and Technology

Hamburg University

Munich University