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商品編號：90206

CMOS平板探測器

價格：詢價

產地：更新時間：2021-08-09 09:37

品牌：其他型號：CMOS X射線相機

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CMOS X射線相機由單個半導體硅片制成，可直接探測可見光或配合閃爍晶體用于探測X光和其它高能輻射。針對不同應用，可配備不同厚度Gadox或針狀CsI閃爍體，是醫學診斷，工業檢測，科學成像的理想解決方案，標準能量測試范圍為不超過220KV，根據客戶要求，能量可到400KV，采用Camera Link接口，全分辨率下可到65幀/秒

產品參數

有效面積(mm)	114.9x64.6
分辨率	1536x864
像素尺寸(μm)	74.8/149.6/299.2;依賴于不同的binning
MTF@6lp/mm	大于20%;(150μm HR CsI without binning)
DQE	~0.7 at 0.5lp/mm (28 kV, W / Al)
Binning	1 x 1, 1 x 2, 2 x 2, 1 x 4, 2 x 4, 4 x 4
工作模式	提供低噪聲及高動態范圍兩種
動態范圍	6400-2400;依賴于不同的工作模式及binning
幀速	32-191;依賴于不同的binning及數據接口
ADC分辨率	14位
計算機接口	Camera Link或千兆以太網
外形尺寸(mm)	241 x 150 x 42
重量(kg)	1.9

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