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德***布魯克 光學(xué)輪廓儀NPFLEX 3D

NPFLEX 三維表面測量系統(tǒng)

針對大樣品設(shè)計的非接觸測試分析系統(tǒng)
靈活測量大尺寸、特殊角度的樣品
gao效的三維表面信息測量
垂直方向亞納米分辨率提供更多的細(xì)節(jié)
快速獲取測量數(shù)據(jù)，測試過程迅速gao效

NPFLEX 為大尺寸工件精密加工提供準(zhǔn)確測量
布魯克的NPFLEXTM 3D表面測量系統(tǒng)為精密制造業(yè)帶來前所未有的檢測能力，實現(xiàn)更快的測量時間，提高了產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)力。基于白光干涉的原理，這套非接觸系統(tǒng)提供的技術(shù)性能超出了傳統(tǒng)的的接觸式坐標(biāo)測量儀（CMM）和工業(yè)***探針式輪廓儀的測量技術(shù)。測量優(yōu)勢包括獲得高分辨的三維圖像，進(jìn)行快速豐富的數(shù)據(jù)采集，幫助用戶更深入地了解部件的性能和功能。積累幾十年的干涉技術(shù)和大樣本的儀器設(shè)計的經(jīng)驗，NPFLEXTM是di***個可以靈活地測量大尺寸樣品的光學(xué)測量系統(tǒng)，而且能夠gao效快捷地獲得從微觀到宏觀等不同方面的樣品信息。

其靈活性表現(xiàn)在可用于測量表征更大的面型和更難測的角度樣品

• 創(chuàng)新性的空間設(shè)計使得可測零件（樣品）更大、形狀更多

• 開放式龍門、客戶定制的夾具和可選的搖擺測量頭可輕松測量想測部位

gao效的三維表面信息測量
 

• 每次測量均可獲得完整表面信息,并可用于多種分析目的

• 更容易獲得更多的測量數(shù)據(jù)來幫助分析

垂直方向亞納米分辨率提供更多的細(xì)節(jié)
 

• 干涉技術(shù)實現(xiàn)每***個測量象素點上的亞納米***別垂直分辨率

• 工業(yè)界使用多年業(yè)已驗證的干涉技術(shù)提供具有統(tǒng)計意義的數(shù)據(jù)，為日漸苛刻的加工工藝提供保障

測量數(shù)據(jù)的快速獲取保證了測試的迅速和gao效
 

• ***少的樣品準(zhǔn)備時間和測量準(zhǔn)備時間

• 比接觸法測量（***條線）更大的視場（***個面）獲得表面更多的數(shù)據(jù)