韓國科美K-MAC 薄膜測厚儀（涂層）ST2000-DLXn
價 格：詢價
產 地：韓國更新時間：2020-10-23 10:52
品 牌：科美儀器型 號：ST2000-DLXn
狀 態：正常點擊量：1509
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上海自提或三方快遞
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測量迅速，操作簡單
非接觸式，非破壞方式
***的重復性和再現性
用戶易操作界面
每個影像打印和數據保存功能
可測量多達3層
可背面反射
產品參數
1、尺寸 ：190 x 265 x 316 mm
2、重量 ：12Kg
3、類型 ：手動的
4、測量樣本大小 ：≤ 4"
5、測量方法 ：非接觸式
6、測量原理 ：反射計
7、活動范圍 ：150 x 120mm(70 x 50mm 移動距離)
8、測量范圍 ：200?~ 35?(根據膜的類型)
9、光斑尺寸 ：20? 典型值
10、測量速度 ：1~2 sec./site
11、應用領域 ：a)聚合體: PVA, PET, PP, PR ...
b)電解質: SiO2、TiO2、ITO、ZrO2、Si3N4
c)半導體: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
12、選擇 ：參考樣品(K-MAC or KRISS or NIST)
13、探頭類型 ：三目探頭
14、nosepiece ：Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
15、照明類型 ：12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer
滬公網安備31011502016460號
